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자료유형
학술저널
저자정보
Sharbidre, Rakesh Sadanand (Department of Material Science Engineering, Paichai University) Lee, Chang Jun (Division of Industrial Metrology, Korea Research Institute of Standards and Science) Hong, Seong-Gu (Division of Industrial Metrology, Korea Research Institute of Standards and Science) Ryu, Jae-Kyung (Department of Dental Technology and Science, ShinHan University) Kim, Taik Nam (Department of Material Science Engineering, Paichai University)
저널정보
한국재료학회 한국재료학회지 한국재료학회지 제26권 제12호
발행연도
2016.1
수록면
704 - 708 (5page)

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The unique characteristics of graphene make it an optimal material for crucial studies; likewise, its potential applications are numerous. Graphene's characteristics change with the number of total layers, and thus the rapid and accurate estimation of the number of graphene layers is essential. In this work, we review the methods till date used to identify the number of layers but they incorporate certain drawbacks and limitations. To overcome the limitations, a combination of these methods will provide a direct approach to identify the number of layers. Here we correlate the data obtained from Raman spectroscopy, optical microscopy images, and atomic force microscopy to identify the number of graphene layers. Among these methods, correlation of optical microscopy images with Raman spectroscopy data is proposed as a more direct approach to reliably determine the number of graphene layers.
#graphene #number of graphene layers #optical microscopy #Raman spectroscopy

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A. K. Geim / 2007 / Nat. Mater. 6:183 google schola Isaac Childres / Purdue University, Physics Journal google schola Z. Ni / 2008 / Nano Res 1:273 google schola Alexander E. Mag-isa / 2015 / Carbon 94:646 google schola A. C. Ferrari / 2006 / Phys. Rev. Lett 97:187401 google schola

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