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학술저널
저자정보
박병규 (에스피아이디) 주백수 (에스피아이디) 이승환 (에스피아이디)
저널정보
한국자동차공학회 한국자동차공학회논문집 한국자동차공학회논문집 제29권 제2호
발행연도
2021.2
수록면
173 - 186 (14page)
DOI
10.7467/KSAE.2021.29.2.173

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Quantitative evaluation of random failure for semiconductor elements is essential in the development of automotive semiconductors that comply with the ASIL B or higher functional safety ISO 26262 standard. The most preferred method for performing these quantitative assessments is the FMEDA analysis technique. FMEDA, along with the introduction of ISO 26262, is a quantitative safety analysis that has been used in the overall automotive industry for many years. However, the domestic semiconductor industry has little practical experience with FMEDA, perhaps because it is in the early process of introducing the functional safety ISO 26262. Moreover, since there are few FMEDA-related data suitable for the semiconductor level, it is difficult to understand and apply to semiconductor analysis. The aim of this paper is to gain a better understanding of the quantitative safety analysis at the semiconductor level by presenting a method of performing the FMEDA at the semiconductor level from a practical point of view.

목차

Abstract
1. 서론
2. 반도체 분석의 세분화 수준
3. 반도체 수준의 FMEDA 수행
4. 결론
References

참고문헌 (14)

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