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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Soonbum Song (Hongik University) Youngmin Kim (Hongik University)
저널정보
대한전자공학회 IEIE Transactions on Smart Processing & Computing IEIE Transactions on Smart Processing & Computing Vol.10 No.2
발행연도
2021.4
수록면
167 - 175 (9page)
DOI
10.5573/IEIESPC.2021.10.2.167

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As the size of technology shrinks, its immunity to the space radiation environment decreases. A single-event transient (SET) induced by radiation can cause permanent damage to devices. Therefore, engineers have been researching radiation-hardened flip-flops or latches that are robust to soft errors. This paper proposes a true-single-phase-clock (TSPC)-based single-node-upset (SNU)-tolerant flip-flop, which is robust to SNUs and even faster than conventional DFFs. This flip-flop consists of two modules of TSPC flip-flops, except for inverters, and a Muller C-element. It has only 22 transistors, which makes it area-efficient. Moreover, the proposed flip-flop uses a TSPC; hence, the clock-to-Q delay is 10% less than the conventional DFF.

목차

Abstract
1. Introduction
2. Previous RHBD Flip-flops
3. Proposed Flip-flop
4. Simulation Results
5. Conclusion
References

참고문헌 (11)

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