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저자정보
하윤우 (아주대학교) 양희찬 (아주대학교) 유근호 (아주대학교) 박준표 (아주대학교) 왕지남 (아주대학교)
저널정보
대한산업공학회 대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집 2022년 대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집 [2개 학회 공동주최]
발행연도
2022.6
수록면
4,029 - 4,036 (8page)

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제조 공정의 이상을 탐지하는 것은 많은 기업의 주요한 관심사 중 하나이며, 이를 위해 센서를 설치하고 데이터를 수집한다. 수집된 데이터를 활용하여 이상 사이클 패턴을 탐지하는 것은 공정의 생산성 향상과 연결된다. 이에 본 논문에서는 FGLS(Feasible Generalized Least Squares)추정을 통해 공정의 사이클 패턴을 추출하고 카이제곱 분포를 이용하여 이상 탐지를 수행하고자 한다. 이를 통해 사용자가 설정한 p-value 임계값을 기준으로 이상 탐지를 수행할 수 있다.

목차

1. Abstract
2. 서론
3. 목적
4. 방법
5. 구현
6. 결론
7. 향후 과제
8. 참고 문헌

참고문헌 (0)

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2022-530-001520540