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학술저널
저자정보
이현종 (Korea Institute of Industrial Technology) Odongo Francis Ngome Okello (POSTECH) 김기엽 (포항공과대학교) 송경 (한국재료연구원) 최시영 (포항공과대학교)
저널정보
한국현미경학회 한국현미경학회지 한국현미경학회지 제51권 제2호
발행연도
2021.6
수록면
1 - 7 (7page)
DOI
10.1186/s42649-021-00057-8

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Growing demands for comprehending complicated nano-scale phenomena in atomic resolution has attracted in-situ transmission electron microscopy (TEM) techniques for understanding their dynamics. However, simple to safe TEM sample preparation for in-situ observation has been limited. Here, we suggested the optical microscopy based micro-manipulating system for transferring TEM samples. By adopting our manipulator system, several types of samples from nano-wires to plate-like thin samples were transferred on micro-electro mechanical systems (MEMS) chip in a single step. Furthermore, the control of electrostatic force between the sample and the probe tip is found to be a key role in transferring process.

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