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저자정보
Yeonsoo Lim (Ulsan National Institute of Science and Technology) In Cheol Seo (Ulsan National Institute of Science and Technology) Young Chul Jun (Ulsan National Institute of Science and Technology)
저널정보
한국광학회 Current Optics and Photonics Current Optics and Photonics Vol.7 No.2
발행연도
2023.4
수록면
147 - 156 (10page)

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Circularly polarized (CP) emission can be achieved by integrating emissive materials into chiral metasurfaces. Such CP light sources in integrated device platforms are desirable for important potential applications. However, the exact characterization of the polarization state in CP emission may include some errors because of the unwanted polarization distortion caused by optical components (e.g., beam splitter) in the optical setup. Here, we consider CP emission measurements from chiral metasurfaces and characterize the polarization distortion caused by the beam splitter. We first detail the procedures for the Stokes parameters and Mueller matrix measurements. Then, we directly measure the Mueller matrix of the beam splitter and retrieve the original polarization state of CP emission from our metasurface sample. Using the measured Mueller matrix of the beam splitter, we specifically identify what contributes to polarization distortion in CP emission. Our work may provide useful guidelines for the characterization and compensation of polarization distortion in general Stokes parameter measurements.
#Circularly polarized emission #Mueller matrix #Polarization distortion #Stokes parameters

목차

I. INTRODUCTION
II. POLARIZATION STATE OF LIGHT AND STOKES VECTOR
III. MEASUREMENT OF STOKES PARAMETERS
IV. MUELLER MATRIX OF A BEAM SPLITTER
V. POLARIZATION DISTORTION AND COMPENSATION OF CIRCULARLY POLARIZED EMISSION
VI. CONCLUSION
REFERENCES

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