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저자정보
차예원 (성균관대학교 전기정보공학과) Suresh Kumar Dhungel (성균관대학교) 이준신 (성균관대학교)
저널정보
한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제36권 제1호
발행연도
2023.1
수록면
16 - 22 (7page)

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In a solar cell, degradation refers to the decrease in performance parameters caused by defects originated due to various causes. During the fabrication process of solar cells, degradation is generally related to the processes such as passivation or firing. There exist sources of many types of degradation; however, the exact cause of Light and elevated Temperature Induced Degradation (LeTID) is yet to be determined. It is reported that the degradation and the regeneration occur due to the recombination of hydrogen and an arbitrary substance. In this paper, we report the deposition of Al2O3 and SiNX on silicon wafers used in the Passivated Emitter and Rear Contact (PERC) solar structure and its degradation pattern. A higher degradation rate was observed in the sample with single layer of Al2O3 only, which indicates that the degradation is affected by the presence or the absence of a passivation thin film. In order to alleviate the degradation, optimization of different steps should be carried out in consideration of degradation in the solar cell fabrication process.

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