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저자정보
Paul Sochor (Infineon Technologies AG) Andreas Huerner (Infineon Technologies AG) Qing Sun (Infineon Technologies AG) Rudolf Elpelt (Infineon Technologies AG)
저널정보
전력전자학회 ICPE(ISPE)논문집 ICPE 2023-ECCE Asia
발행연도
2023.5
수록면
112 - 119 (8page)

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Compact models of SiC MOSFETs for circuit simulation have evolved significantly in recent years in terms of accuracy, computation speed and convergence robustness. Circuit designers benefit from models that they can use in computer simulation to understand, troubleshoot and optimize the static and dynamic device behavior of applications through virtual prototyping. Among the various compact models available there can be significant differences in structure, complexity, and considered device properties that can impact their usefulness in virtual prototyping. SiC MOSFETs have certain unique behavioral aspects due to their particular device structure and material characteristics that must be considered for its compact model it to be effective. This paper discusses several key characteristics of SiC MOSFETs that are also essential for their compact models such as short-channel effects, body diode recovery and snappiness, dead time dependency, and threshold voltage hysteresis.

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. GENERAL ASPECTS OF COMPACT MODELS
III. MODELING ASPECTS OF SIC MOSFETS
IV. SUMMARY AND CONCLUSION
REFERENCES

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