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논문 기본 정보

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학술저널
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최건희 (국민대학교) 김주환 (국민대학교) 한재승 (국민대학교) 한동국 (국민대학교)
저널정보
한국전자파학회 한국전자파학회논문지 한국전자파학회논문지 제35권 제7호(통권 제326호)
발행연도
2024.7
수록면
585 - 594 (10page)

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전자파 오류 주입은 의도한 오류를 유발하기 위해 타이밍, 세기, 위치 등의 파라미터를 찾아야 한다. 기존에는 반복적인 전자파 오류 주입 실험을 통해 의도한 오류가 발생하는 파라미터를 찾아왔다. 하지만 이것은 상당한 시간을 요구하며 실험 중 발생하는 영구적 결함에 대비한 다수의 대상 기기가 필요하다. 본 논문은 대상 알고리즘이 동작할 때 방출되는 전자파로부터 취약한 회로의 위치를 파악하고, 전자파 오류 주입에 대한 관계성을 분석한다. 제안하는 기법은 세 종류의 공격자 가정에서 적용 가능한 기법이며, 각각은 암호에 의존한 전자파 강도 차분 분석, 전력과 전자파의 상관성 분석, 전자파와 암호 중간값의 상관성 분석이다. 검증 결과 제안한 모든 기법은 일관되게 칩의 특정 영역을 주요 위치로 식별하였다. 실제 전자파 오류 주입의 타이밍, 세기의 파라미터를 변경한 다수의 실험 결과도 동일한 영역이 취약함을 보여 제안한 기법의 타당성을 증명했다. 본 논문에서 제안하는 기법은 XMEGA128D4 대상 실험을 통해 칩의 최소 75 %의 영역을 전자파 오류 주입 위치 탐색에서 제거할 수 있음을 실험을 통해 증명하였다.
#Cryptography #Side Channel Analysis #Fault Injection #EMC

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 비밀 정보 분석
Ⅲ. 방출 전자파 기반 오류 주입 위치 탐색 기법
Ⅳ. 검증 실험
Ⅴ. 결론
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