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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
구윤수 (인하대학교) 신우창 (인하대학교) 조동휘 (인하대학교) 남춘성 (인하대학교)
저널정보
한국멀티미디어학회 멀티미디어학회논문지 멀티미디어학회논문지 제27권 제11호
발행연도
2024.11
수록면
1,406 - 1,415 (10page)
DOI
10.9717/kmms.2024.27.11.1406

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This study investigates the application of artificial intelligence in a smart manufacturing environment to analyze sensor data collected from semiconductor processes and effectively detect defective products. The primary objective of this research is to enhance the efficiency of the manufacturing process and improve the quality of the produced goods. To achieve this, data provided by Samsung's smart factory was utilized, and various preprocessing techniques such as dimension reduction, sampling, and scaling were applied. The focus was on reducing the complexity of the data while minimizing any potential per- formance degradation. The results of the study confirmed that appropriate dimension reduction could decrease data complexity and improve efficiency without compromising performance. Furthermore, the research demonstrated a significant improvement in defect prediction performance, achieving an ap- proximately 3% increase in the Geometric Mean (GM) compared to previous studies. These findings underscore the critical role that AI-driven data analysis can play in advancing smart manufacturing environments.

목차

ABSTRACT
1. 서론
2. 관련 연구
3. 연구 방법
4. 실험 결과
5. 비교평가
6. 결론
REFERENCE

참고문헌 (18)

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