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이용수
Abstract
I. 서론
II. 본론
Ⅲ. Simulator를 이용한 inference accuracy 검증 결과
Ⅳ. 결론 및 향후 연구 방향
참고문헌
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Extension of DRAM Retention Time at 77 Kelvin by Replacing Weak Rows with Large GIDL Current
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Analysis on 2T-DRAM Using Amorphous InGaZnO Thin-Film-Transistors
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2022 .11
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한국자동차공학회 추계학술대회 및 전시회
2024 .11
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