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이용수1
제 1 장 서론 11.1 연구 배경 및 필요성 1제 2 장 관련 이론 32.1 EMC 관련 국제규격 32.1.1 표준 제정 기관 32.1.2 각 국의 EMC 국제 규제 동향 72.2 IP Cluster에 대한 EMC 규격 82.2.1 Emission 92.2.2 RS (Radiated Susceptibility) 132.2.3 CS (Conducted Susceptibility) 142.2.4 ESD (Electrostatic Discharge) 152.3 IP Cluster의 소개 및 PCB 구성 162.4 전도성 Noise 결합모드 21제 3 장 실험 방법 및 장치 253.1 시료제작 253.2 시험장비 263.3 시험방법 283.4 평가기준 31제 4 장 실험 결과 및 고찰 33제 5 장 결론 40참고문헌 41
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