내장 자가 검사 회로의 설계

김규철 ,  노철균

대한전자공학회 학술대회

1999 .06

Built-In 방식을 이용한 순서논리 회로의 Testable Design ( Testable Design of Sequential circuit using Built-In Test Technique )

정준모 ,  한석붕 ,  이재민 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1985 .01

CMOS 테스트를 위한 Built-In Self-Test 회로 설계 ( A Built-In Self-Test Method for CMOS Circuits )

김윤홍 ,  임인칠

전자공학회논문지-B

1992 .09

5㎓ 저잡음 증폭기를 위한 새로운 Built-In Self-Test 회로

류지열 ,  노석호

한국정보통신학회논문지

2005 .08

고장검출이 용이한 Built-in Test 방식의 설계 ( Testable Design on the Built In Test Method )

노승용 ,  임인칠

전자공학회논문지

1987 .05

측정이 쉬운 순서 논리회로의 설계에 관한 연구 ( A Study on the Design for the Easily Testable Sequential Circuits )

김연숙 ,  김용득

대한전자공학회 학술대회

1983 .01

Test Generation for Sequential Circuits

Dong Ho Lee

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

시이컨셜회로 구현에 관한 연구

박춘명

대한전자공학회 학술대회

2012 .11

순서다직논리회로의 파장이론에 관한 연구 ( A Study on the Expanded Theory of Sequential Multiple-valued Logic Circuit )

이동렬 ,  최승철

한국통신학회논문지

1987 .12

회로 분할에 의한 순차회로의 테스트생성 ( Test Generation for Sequential Circuits Based on Circuit Partitioning )

최호용

전자공학회논문지-C

1998 .04

기초회로실험을 통한 여러 가지 회로 설계

진정아 ,  최연성 ,  김잔디 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2014 .11

경계주사 환경에서 Built-In Self-Test 구현을 위한 Built-In Logic Block Observation 설계 ( A Design Of Built-in Logic Block Observer for Realization of Built-In Self-Test in Boundary-Scan Environment )

박은화 ,  조계철 ,  김상국 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

회로 분할에 의한 대규모 순차회로의 테스트 생성 ( Test Generation for large Scale Sequential Circuits Based on Circuit Partitioning )

최호용 ,  정용군

한국통신학회 학술대회논문집

1997 .01

행열연산에 의한 순서다치이론회로 구성이론 ( A Construction Theory of Sequential Multiple-Valued Logic Circuit by Matrices Operations )

김흥수 ,  강성수

전자공학회논문지

1986 .07

동기식 순서논리회로의 자동시험패턴생성 ( Automatic Test Pattern Generation of Synchronous Sequential Circuit )

안광선 ,  김명수 ,  박세명

한국통신학회 학술대회논문집

1989 .01

동기식 순서논리회로의 자동시험패턴생성 ( Automatic Test Pattern Generation of Synchronous Sequential Circuit )

안광선 ,  김명수 ,  박세명

특정연구 결과 발표회 논문집

1989 .01

디자인 빌드 방식의 프로젝트 관리를 위한 프로세스 개선 모델

김의식 ,  박상준 ,  신창현 외 1명

대한건축학회 학술발표대회 논문집 - 구조계

2004 .10

일반체계이론을 적용한 선택적 설계시공일괄방식 체계에 관한 연구

김정훈 ,  구교진 ,  현창택

대한건축학회 논문집 - 구조계

2003 .10

Built-In Self-Test 방식을 사용한 VLSI 논리설계 ( Built-In Self Test Structures for VLSI )

이경한 ,  이재민 ,  한석붕 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1985 .01

Implementation of a Built-In Self Test Circuit for Super High Density Memory Test Using the New Tiling Method

Dong Chual Kang ,  Jong Hwa Lee ,  Sang Bock Cho

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1998 .01