Design for Testability

유영갑

한국통신학회 워크샵

1986 .01

Design for Testability를 위한 검사방식

이강현 ,  김용득

전자공학회지

1992 .01

Testability를 이용한 검사패턴 생성에 관한 연구 ( A Study on the Test Pattern Generation Using Testability )

김진문 ,  송원국 ,  이강현 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .07

신호선의 상관관계를 고려한 개선된 테스트용이도 분석 알고리즘

김윤홍

한국산학기술학회 논문지

2003 .03

Testability를 높이기 위한 Sea-of-Gates 구조에 관한 연구 ( A Study on the Sea-of-Gates Structure to Enhance Testability )

윤인수 ,  채수익

대한전자공학회 학술대회

1992 .01

Hybrid Design For Testability Combining Scan and Clock Line Control and Method For Test Generation

Sang Hyeon Baeg ,  William A. Roge ,  s

대한전자공학회 토론회

1995 .01

Hybrid Design For Testability Combining Scan and Clock Line Control and Method For Test Generation

Sanghyeon Baeg ,  William A. Roge ,  s

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

고 Testability를 위한 Domino CMOS회로의 설계 ( On Designing Domino CMOS Circuits for High Testability )

이재민 ,  강성모

한국통신학회논문지

1994 .03

논리계통의 회로측정방식 연구 ( Testability measurement for the digital systems )

김용득

대한전자공학회 학술대회

1980 .01

디지탈 시스템의 회로측정 평가방식에 관한 연구 ( A Study on a Testability Evaluation Method for the Digital System )

김용득

전자공학회지

1981 .10

Testability of Supply Current Test in an AGC Circuit

Masaki Hashizume ,  Makoto Kawaji ,  i 외 3명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2003 .07

Random Pattern Testability of AND/XOR Circuits

Gueesang Lee

Journal of Electrical Engineering and information Science

1998 .02

구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계 ( A Unification of Structural Analysis And Testabilities For a Partial Scan Design )

박종욱 ,  박경택 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  박경태 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

Testability Enhancement in IDDQ Environment

황선태

CAD 및 VLSI 설계연구회지

1995 .01

Scan Flipflops Grouping Algorithm for Low Power Design-For-Testability

Insoo Kim ,  Hyoung Bok Min

대한전자공학회 ISOCC

2007 .10

“소프트웨어 품질 및 테스팅”특집을 내면서

김문주

정보과학회지

2013 .05

압전 진동 에너지 하베스팅

손정우 ,  김기우 ,  이영준 외 2명

소음·진동

2016 .01

An Interative PC Based Tool for Testability Measurement

Tay Beng Kang ,  H. L. Chin

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1994 .01

IDDQ Testability Analysis Using Random Test Vectors

Von Kyoung Kim ,  Tom Chen

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01