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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 1997.11
- 수록면
- 1,014 - 1,017 (4page)
이용수
이 논문의 연구 히스토리 (4)
1997
구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계
박종욱
,
박경태
,
박성주
대한전자공학회 학술대회
1997.11
학술대회자료
구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계 ( A Unification of Structural Analysis And Testabilities For a Partial Scan Design )
박종욱
,
박경택
,
박성주
대한전자공학회 학술대회
1997.11
학술대회자료
구조분석과 테스트 가능도에 의한 부분스캔 설계
박종욱
,
박경택
,
박성주
한국정보과학회 학술발표논문집
1997.10
학술대회자료
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목차
요약
1. 개요
2. 구조분석에 의한 부분스캔
3. 테스트 가능도에 의한 부분스캔 설계
4. 실험결과 및 구조분석과 테스트 가능도를 통합한 부분스캔의 제안
5. 결론 및 향후 연구 계획
참고문헌
참고문헌 (0)
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구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계 ( A Unification of Structural Analysis And Testabilities For a Partial Scan Design )
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
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구조분석과 테스트 가능도의 통합에 의한 부분스캔 설계
정보과학회논문지(A)
1999 .09
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Signal Integrity 연결선 테스트용 다중천이 패턴 생성방안
전자공학회논문지-SD
2008 .10
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구조분석과 테스트 가능도에 의한 부분스캔 설계
한국정보과학회 학술발표논문집
1997 .10
-
Design for Testability
한국통신학회 워크샵
1986 .01
-
시험성 분석 기법 ( ITEM ) 의 부분 스캔 성능 평가 ( Partial Scan Performance Evaluation of Iterative Method of Testability Measurement ( ITEM ) )
전자공학회논문지-C
1998 .11
-
디지탈 IC 및 보드의 시험을 위한 스캔 설계 기술 ( Scan Design Techniques for Chip and Board Level Testability )
전자공학회지
1995 .12
-
신호선의 상관관계를 고려한 개선된 테스트용이도 분석 알고리즘
한국산학기술학회 논문지
2003 .03
-
Design for Testability를 위한 검사방식
전자공학회지
1992 .01
-
Testability를 이용한 검사패턴 생성에 관한 연구 ( A Study on the Test Pattern Generation Using Testability )
대한전자공학회 학술대회
1990 .07
-
동시적 부분스캔 고장검출도 / 타이밍 최적화를 위한 논리변환 ( Logic Transformations for Concurrent Partial-scan Testability / Timing Optimization )
대한전자공학회 학술대회
1997 .01
-
테스트 시간과 테스트 전력 감소를 위한 선택적 세그먼트 바이패스 스캔 구조
전자공학회논문지-SD
2009 .05
-
대규모 집적회로 설계를 위한 무고정 부분 스캔 테스트 방법 ( No-Holding Partial Scan Test Method for Large VLSI Designs )
전자공학회논문지-C
1998 .03
-
RTL 회로를 위한 테스트 용이도 기반 비주사 설계 기법
정보과학회논문지 : 시스템 및 이론
2003 .02
-
학습 정보를 이용한 테스트 용이도 척도의 계산
전자공학회논문지-SD
2004 .05
-
부분 스캔을 고려한 최적화된 상태할당 기술 개발
전자공학회논문지-SD
2000 .11
-
Hybrid Design For Testability Combining Scan and Clock Line Control and Method For Test Generation
대한전자공학회 토론회
1995 .01
-
Hybrid Design For Testability Combining Scan and Clock Line Control and Method For Test Generation
대한전자공학회 학술대회
1995 .07
-
Scan Flipflops Grouping Algorithm for Low Power Design-For-Testability
대한전자공학회 ISOCC
2007 .10
-
순차깊이를 고려한 부분 스캔 설계 ( Partial Scan Design Considering The Sequential Depth )
대한전자공학회 학술대회
1995 .01
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