구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  박경태 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계 ( A Unification of Structural Analysis And Testabilities For a Partial Scan Design )

박종욱 ,  박경택 ,  박성주

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

구조분석과 테스트 가능도의 통합에 의한 부분스캔 설계

박종욱 ,  신상훈 ,  박성주

정보과학회논문지(A)

1999 .09

Design for Testability

유영갑

한국통신학회 워크샵

1986 .01

디지탈 IC 및 보드의 시험을 위한 스캔 설계 기술 ( Scan Design Techniques for Chip and Board Level Testability )

민형복

전자공학회지

1995 .12

Testability를 이용한 검사패턴 생성에 관한 연구 ( A Study on the Test Pattern Generation Using Testability )

김진문 ,  송원국 ,  이강현 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .07

Signal Integrity 연결선 테스트용 다중천이 패턴 생성방안

김용준 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2008 .10

동시적 부분스캔 고장검출도 / 타이밍 최적화를 위한 논리변환 ( Logic Transformations for Concurrent Partial-scan Testability / Timing Optimization )

양세양

대한전자공학회 학술대회

1997 .01

Design for Testability를 위한 검사방식

이강현 ,  김용득

전자공학회지

1992 .01

Hybrid Design For Testability Combining Scan and Clock Line Control and Method For Test Generation

Sang Hyeon Baeg ,  William A. Roge ,  s

대한전자공학회 토론회

1995 .01

Hybrid Design For Testability Combining Scan and Clock Line Control and Method For Test Generation

Sanghyeon Baeg ,  William A. Roge ,  s

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

디지탈 시스템의 회로측정 평가방식에 관한 연구 ( A Study on a Testability Evaluation Method for the Digital System )

김용득

전자공학회지

1981 .10

원형스캔 레이더 식별을 위한 스캔변수 추정기법

류영진 ,  하현주 ,  김환우

전자공학회논문지-SP

2006 .11

Scan Flipflops Grouping Algorithm for Low Power Design-For-Testability

Insoo Kim ,  Hyoung Bok Min

대한전자공학회 ISOCC

2007 .10

논리계통의 회로측정방식 연구 ( Testability measurement for the digital systems )

김용득

대한전자공학회 학술대회

1980 .01

Dynamically Changeable Secure Scan Architecture against Scan-Based Side Channel Attack

Yuta Atobe ,  Youhua Shi ,  Masao Yanagisawa 외 1명

대한전자공학회 ISOCC

2012 .11

신호선의 상관관계를 고려한 개선된 테스트용이도 분석 알고리즘

김윤홍

한국산학기술학회 논문지

2003 .03

3차원 형상 스캔의 측정방법 개선에 관한 연구

김태호 ,  김민주 ,  이승수 외 2명

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2001 .10

회로 분할에 의한 부분 스캔 ( Partial Scan Based on Circuit Partitioning )

최호용 ,  정용군 ,  강민섭

대한전자공학회 학술대회

1997 .07

회로 분할에 의한 부분 스캔

최호용 ,  정용군 ,  강민섭

대한전자공학회 학술대회

1997 .06