A New Test Algorithm for High - Density Memories

Dong-Chual Kang ,  Sang-Bock Cho

대한전자공학회 학술대회

2000 .11

차세대 반도체 메모리의 테스트 기술

이화준 ,  소병세

전자공학회지

1995 .12

메모리 테스트를 위한 BIST 기술

김대익 ,  배성환 ,  이창기 외 2명

전자공학회지

1995 .12

고집적 메모리에서 PSF의 테스트에 관한 연구 ( A Study on PSF's Testing in High Density Memory )

허영도 ,  이중호 ,  조효문 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1990 .01

메모리 기술동향

김형탁

전기의세계

2011 .12

고집적 메모리를 위한 효율적인 고장 진단 알고리듬

朴漢源 ,  姜成昊

전기학회논문지 D

2001 .04

이중 포트 메모리의 실제적인 고장을 고려한 효율적인 테스트 알고리즘

박영규 ,  양명훈 ,  김용준 외 2명

전자공학회논문지-SD

2007 .02

64비트 환경에서 메모리 테스트 영역 확장을 위한 프로그램 재배치 기법

박한주 ,  박희권 ,  최종무 외 1명

한국정보과학회 학술발표논문집

2005 .07

메모리 설계기술과 향후 동향

홍상훈

전자공학회지

2010 .10

이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트 알고리듬

김지혜 ,  송동섭 ,  배상민 외 1명

전자공학회논문지-SD

2003 .01

색채 조명 자극이 인지기능에 미치는 영향에 관한 연구

정우석 ,  김기범 ,  권대규 외 2명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2004 .05

메모리 모델

기안도

[ETRI] 전자통신동향분석

1998 .04

고집적 반도체를 위한 테스트 순서 조정 방법

김완기 ,  장재필 ,  홍종기 외 2명

대한전기학회 학술대회 논문집

2015 .02

Si 초고집적 , 초고속 IC 개발을 위한 분석기술

최민성 ,  김우식 ,  양두영 외 2명

대한전자공학회 워크샵

1988 .01

Si 초고집적, 초고속 IC 개발을 위한 분석기술

최민성 ,  김우식 ,  양두영 외 3명

대한전자공학회 워크샵

1988 .04

내장 메모리를 위한 프로그램 가능한 자체 테스트와 플래시 메모리를 이용한 자가 복구 기술

홍원기 ,  최정대 ,  심은성 외 1명

전자공학회논문지-SD

2008 .02

내장 메모리를 위한 프로그램 가능한 자체 테스트

홍원기 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2007 .12

테스트 에이전트 시스템 설계

최정은 ,  최병주

한국정보과학회 학술발표논문집

1999 .04

고집적 폴리머열교환기

오동욱 ,  송찬호 ,  박상진 외 1명

기계저널

2014 .05