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논문 기본 정보

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대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 電子工學會論文誌 SD編 第44卷 第2號
발행연도
2007.2
수록면
72 - 85 (14page)

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메모리 설계 기술과 공정기술의 발달은 고집적 메모리의 생산을 가능하게 하였다. 그러나 이는 메모리의 복잡도를 증가시켜 메모리 테스트를 더욱 복잡하게 하여, 결과적으로 메모리 테스트 비용의 증가를 가져왔다. 효과적인 메모리 테스트 알고리즘은 짧은 테스트 시간동안 다양한 종류의 고장을 검출하여야 하며, 특히 이중 포트 메모리 테스트 알고리즘의 경우에는 단일 포트메모리의 고장과 이중 포트 메모리 고장을 모두 검출할 수 있어야 한다. 본 논문에서 제안하는 March A2PF 알고리즘은 18N의 짧은 테스트 패턴을 통해 이중 포트 및 단일 포트 메모리와 관련된 모든 종류의 고장을 검출하는 효과적인 테스트 알고리즘이다.
#Dual Port Memory #Test Algorithm #Fault Model

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 이중 포트 메모리의 고장모델
Ⅲ. 제안하는 테스트 알고리즘
Ⅳ. 성능평가
Ⅴ. 결론
참고문헌
저자소개

참고문헌 (10)

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, 1993 , A New Test Evaluation Chip for Lower Cost Memory Tests Proceedings of IEEE Design and Test of Computers : 15 ~ 19 google schola , 1995 , An efficient Test Methode for Embedded Multi-Port RAM With BIST circuitry : 62 ~ 67 google schola , 1997 , New fault models and efficient BIST algorithms for dual-port memories 16 : 987 ~ 1000 google schola , 2002 , Thorough testing of any multiport memory with linear tests 21 : 217 ~ 231 google schola , 2000 , Functional memory faults: a formal notation and a taxonomy : 281 ~ 289 google schola

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