내장 메모리를 위한 프로그램 가능한 자체 테스트와 플래시 메모리를 이용한 자가 복구 기술

홍원기; 최정대; 심은성; 장훈

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자료유형: 학술저널

저자정보: 홍원기 최정대 심은성 장훈

저널정보: 대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 電子工學會論文誌 SD編第45卷第2號

발행연도: 2008.2

수록면: 69 - 81 (13page)

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메모리 기술이 발달함에 따라 메모리의 집적도가 증가하게 되었고, 이러한 변화는 구성요소들의 크기를 작아지게 만들고, 고장의 감응성이 증가하게 하였다. 그리고 고장은 더욱 복잡하게 되었다. 또한, 칩 하나에 포함되어있는 저장 요소가 늘어남에 따라 테스트 시간도 증가하게 되었다. 본 논문에서 제안하는 테스트 구조는 내장 테스트를 사용하여 외부 테스트 환경 없이 테스트가 가능하다. 제안하는 내장 테스트 구조는 여러 알고리즘을 적용 가능하므로 높은 효율성을 가진다. 또한 고장 난 메모리를 여분의 메모리로 재배치함으로써 메모리 수율 향상과 사용자에게 메모리를 투명하게 사용할 수 있도록 제공할 수 있다. 본 논문에서는 고장 난 메모리 부분을 여분의 행과 열 메모리로 효율적인 재배치가 가능한 복구 기술을 포함한다. 재배치 정보는 고장 난 메모리를 매번 테스트 해야만 얻을 수 있다. 매번 테스트를 통해 재배치 정보를 얻는 것은 시간적 문제가 발생한다. 이것을 막기 위해 한번 테스트해서 얻은 재배치 정보를 플래시 메모리에 저장해 해결할 수 있다. 본 논문에서는 플래시 메모리를 이용해 재배치 정보의 활용도를 높인다.

#Embedded Memory #BIST #Programmable BIST #BISR

참고문헌 (18)

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1. [학술대회논문] - A. J. van de Goor / 1996 / Towards a uniform notation for memory tests, in Proc / European Design and Test Conf. : 420 ~ 427

2. [학술대회논문] - V. G. Mikitjuk / 1996 / RAM testing algorithms for detecting multiple linked faults,” in Proc / European Design and Test Conf. : 435 ~ 439

3. [학술지(정기간행물)] - P. H. Bardell / 1988 / Built-in test for RAMs / IEEE Design & Test of Computers 5 (4) : 29 ~ 36

4. [학술지(정기간행물)] - V. D. Agrawal / 1993 / A tutorial on built-in self-test. I. Principles / IEEE Design & Test of Computers 10 (1) : 73 ~ 82

5. [학술지(정기간행물)] - V. D. Agrawal / 1993 / A tutorial on built-in self-test. 2. Principles / IEEE Design & Test of Computers 10 (2) : 69 ~ 77

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