테스트 포인트 삽입에 의한 내장형 자체 테스트 구현 ( BIST implementation with test points insertion )

장윤석 ,  이정한 ,  김동욱

대한전자공학회 학술대회

1998 .11

내장형 메모리 테스트 알고리듬을 위한 범용 BIST 생성기

장종권 ,  성경호 ,  김지현

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

내장된 이중 - 포트 메모리의 효율적인 테스트 방법에 관한 연구

정남규 ,  한재천 ,  장훈

한국정보과학회 학술발표논문집

1999 .04

테스트 포인트 삽입에 의한 내장형 자체 테스트 구현

장윤석 ,  이정한 ,  김동욱

대한전자공학회 학술대회

1998 .11

내장된 자체 테스트를 위한 저전력 테스트 패턴 생성기 구조

김기철 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2010 .08

내장된 메모리를 위한 메모리 테스트 알고리듬의 설계 및 구현

박강민 ,  최인여 ,  양선웅 외 2명

한국정보과학회 학술발표논문집

1997 .04

효율적인 캐쉬 테스트 알고리듬 및 BIST 구조 ( An Effective Cache Test Algorithm and BIST Architecture )

김홍식 ,  윤도현 ,  강성호

전자공학회논문지-C

1999 .12

메모리 테스트를 위한 BIST 기술

김대익 ,  배성환 ,  이창기 외 2명

전자공학회지

1995 .12

내장형 자체 테스트 패턴 생성을 위한 하드웨어 오버헤드 축소

김현돈 ,  신용승 ,  김용준 외 1명

전자공학회논문지-SD

2003 .07

BIST 기법을 이용한 RF 집적회로의 테스트용이화 설계

김용 ,  이재민

디지털콘텐츠학회논문지

2012 .12

순차 회로를 위한 효율적인 지연 고장 테스트 알고리듬

허경희 ,  강용석 ,  강성호

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .11

내장 메모리를 위한 프로그램 가능한 자체 테스트

홍원기 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2007 .12

효율적인 혼합 BIST 방법

김현돈 ,  신용승 ,  김용준 외 1명

전자공학회논문지-SD

2003 .08

부동소수점 DSP core의 내장된 자체 테스트 회로 구현

진명구 ,  장훈

한국정보과학회 학술발표논문집

1999 .04

혼성 신호 회로에 대한 효과적인 BIST

방금환 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2002 .08

Boundary 스캔 구조를 이용한 효율적인 지연테스트기법 설계

이인학 ,  손윤식 ,  류근장 외 5명

한국정보과학회 학술발표논문집

1993 .10

테스트 용이도를 이용한 조합 회로의 효율적인 로보스트 경로 지연 고장 테스트 생성 ( Efficient Robust Path Delay Fault Test Generation for Combinational Circuits Using the Testability Measure )

허용민 ,  임인칠

전자공학회논문지-A

1996 .02

마이크로파이프라인 회로를 위한 지연 고장 테스트

康容碩 ,  許璟會 ,  姜成昊

전자공학회논문지-SD

2001 .08

내장된 자체검사 기법 ( BIST ) 의 기술동향

강성호

전자공학회지

1995 .12

입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소 ( Test Time Reduction of BIST by Primary Input Grouping Method )

장윤석 ,  김동욱

전자공학회논문지-SD

2000 .08