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대한기계학회 대한기계학회 춘추학술대회 대한기계학회 2003년 추계학술대회논문집
발행연도
2003.11
수록면
1,448 - 1,452 (6page)

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A scratch tester was developed to evaluate the adhesive strength at interface between thin-film and
substrate(silicon wafer). Under force control, the scratch tester can measure the normal and the tangential
forces simultaneously as the probe tip of the equipment approaches to the interface between thin-film and
substrate of wafer. The capacity of each component of force sensor is 0.1 N ~ 100 N. In addition, the tester
can detect the signal of elastic wave from AE sensor(frequency range of 900 kHz) attached to the probe tip
and evaluate the bonding strength of interface. Using the developed scratch tester, the feasibility test was
performed to evaluate the adhesive strength of thin-film.

목차

Abstract

1.참고문헌

2. 연구 배경

3. 설계 및 제조

4. 측정 및 고찰

5.결론

후기

참고문헌

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