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대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 전자공학회논문지 SD편 제41권 제11호
발행연도
2004.11
수록면
53 - 59 (7page)

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본 논문은 3차원 연결선 모형을 이용하여 효율적으로 회로 연결선에 기생하는 커패시턴스 성분을 추출하는 방법을 제안한다. 제안한 방법은 경험식에 의한 방법 중 2차원 연결선 모형의 커패시턴스를 추출하는 알고리즘을 이용하여 수행시간을 개선하였고, 정확도의 오차를 줄이기 위하여 3차원 커패시턴스 추출에서 이용되는 모형화 방법을 적용하였다. 이 방법은 FastCap을 이용하여 실험한 결과와 비교하면 1.8%의 오차 범위에서 952배의 시간 이득을 얻을 수 있다. 제안한 방법은 VLSI 시스템의 칩 내 외부 연결선의 전기적 변수 추출에 효과적으로 이용될 수 있을 것이다.

목차

요약

Abstract

Ⅰ. 서론

Ⅱ. 기존 커패시턴스 추출법

Ⅲ. 효율적인 커패시턴스 추출 방법

Ⅳ. 구현 및 실험 결과

Ⅴ. 결론

참고문헌

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참고문헌 (7)

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-569-014400298