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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 1996.7
- 수록면
- 701 - 708 (8page)
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1μ 이하의 반도체들에서는 회로선에서 소요되는 신호 지연이 스위칭 소자내의 지연과 비슷해 지거나 더 커지는 관계로 VLSI/ULSI 칩에서의 회로연결선을 추출하고 모형화하는 작업은 중요한 문제가 되어가고 있다. 이 분야에서의 문제는 회로연결선들의 전자기적 변수를 효율적으로 추출하고, 이를 바탕으로 회로연결선 특성을 표현하는 간결한 회로 모형을 구성하는 것이다. 이를 위한 한 접근 방법은 근사 파형 해석기법 (AWE)과 같은 모형 차수 축소 기법을 모형화 과정에 적용하여 결과로써 주어지는 축소된 저 차 회로선 모형을 범용 시뮬레이터에 입력 가능하도록 함으로써 효율적인 변수 추출과 회로 해석 시간의 단축을 달성하는 방법이다. 이 방법에서의 가장 큰 문제점은 모형 차수 축소 기법을 통하여 생성된 회로 망의 무조건적 안정도를 보장하는 것이다. 본고는 먼저 선형 가역 N port 망이 무조건적으로 안정하기 위한 필요 충분 조건을 유도하고, 다음으로 N port 망의 무조건적 안정도를 검사할 수 있는, 적절한 복잡도를 갖는 실질적 시험 조건들을 제시한다.
목차
요약
Abstract
1. Introduction
2. Proposed Circuit Extraction Method
3. Necessary and Sufficient Condition for Unconditional Stability of Multi-Ports
4. Experimental Results
5. Conclusion
References
저자소개
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