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대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 전자공학회논문지 SD편 제41권 제12호
발행연도
2004.12
수록면
21 - 26 (6page)

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본 논문에서는 package 된 BJT 의 RF 등가회로 모델을 optimization 과정 없이 직접 추출하는 방법을 개발하였다. 먼저, open과 short package 구조를 사용하여 plastie package 의 기생성분을 측정된 S-파라미터로부터 정확히 제거하였다. 이와 같이 package de-embedding 된 S-파라미터로부터 package lead 와 chip pad 사이의 bonding Wire 인덕턴스와 chip pad 캐패시턴스를 직접 추출하는 간단한 방법을 구축하였다. 그 후에 내부 BJT 소자의 소신호 모델변수들은 RF 등가회로로부터 유도된 Z 나 Y-파라미터 방정식을 이용하여 결정하였다 이 방법으로 모델화된 packaged BJT 의 S-파라미터는 측정 데이터와 아주 잘 일치하였으며 이는 새로운 추출방법의 정확성을 증명한다.

목차

요약

Abstract

Ⅰ. 서론

Ⅱ. 본론

Ⅲ. 결론

참고문헌

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