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논문 기본 정보

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학술저널
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한국자기학회 Journal of Magnetics Journal of Magnetics Vol.9 No.1
발행연도
2004.3
수록면
13 - 16 (4page)

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Magnetic tunnel junctions (MTJs) comprising amorphous CoNbZr layers have been investigated. Co_(85.5)Nb_8Zr_(6.5) (in at. %) layers were employed to substitute the traditionally used Ta layers with an emphasis given on understanding underlayer effect. The typical junction structure was SiO₂/CoNbZr or Ta 2/CoFe 8/IrMn 7.5/CoFe 3/ Al 1.6 + oxidation/CoFe 3/CoNbZr or Ta 2 (㎚). For both as-deposited state and after annealing, the CoNbZrunderlayered structure showed superior surface smoothness up to the tunnel barrier than Ta-underlayerd one (rms roughness of 0.16 vs. 0.34 ㎚). CoNbZr-based MTJs was proven beneficial for increasing thermal stability and increasing Vh (the bias voltage where MR ratio becomes half) characteristics than Ta-based MTJs. This is because the CoNbZr-based junctions offer smoother interface structure than the Ta-based one.

목차

Abstract

1. Introduction

2. Experimental Procedure

3. Results and Discussion

4. Conclusions

Acknowledgement

References

참고문헌 (11)

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