병렬 테스트방법을 적용한 고집적 SRAM을 위한 내장된 자체 테스트 기법 ( Built-In Self Test for High Density SRAMs Using Parallel Test Methodology )

강용석 ,  이종철 ,  강성호

전자공학회논문지-C

1998 .08

내장 메모리를 위한 프로그램 가능한 자체 테스트

홍원기 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2007 .12

이중 포트 메모리의 실제적인 고장을 고려한 효율적인 테스트 알고리즘

박영규 ,  양명훈 ,  김용준 외 2명

전자공학회논문지-SD

2007 .02

이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트 알고리듬

김지혜 ,  송동섭 ,  배상민 외 1명

전자공학회논문지-SD

2003 .01

시스템 온 칩 내 eDRAM을 사용한 Tightly Coupled Memory의 병렬 테스트 구조

국인성 ,  이재민

한국정보전자통신기술학회 논문지

2011 .09

내장된 이중 포트 메모리 테스트를 위한 CM2 테스트 알고리즘

양선웅 ,  장훈

정보과학회논문지 : 시스템 및 이론

2001 .06

싱글포트 구조에 기반한 어싱크로너스 의사 듀얼 포트 SRAM 설계

최정희 ,  손기성 ,  김성식 외 1명

전자공학회논문지-SD

2004 .10

2D 필터링을 위한 열벡터를 제공하는 단일 SRAM 기반 라인 메모리 시스템

박현상

한국정보기술학회논문지

2014 .04

SoC 내장 메모리를 위한 ARM 프로세서 기반의 프로그래머블 BIST

이민호 ,  홍원기 ,  송좌희 외 1명

정보과학회논문지 : 시스템 및 이론

2008 .06

테스트 에이전트 시스템 설계

최정은 ,  최병주

한국정보과학회 학술발표논문집

1999 .04

SOC 테스트 시간 축소를 위한 새로운 내장 코어 기반 SOC 테스트 전략

강길영 ,  김근배 ,  임정빈 외 2명

전자공학회논문지-SD

2004 .09

내장 메모리를 위한 프로그램 가능한 자체 테스트와 플래시 메모리를 이용한 자가 복구 기술

홍원기 ,  최정대 ,  심은성 외 1명

전자공학회논문지-SD

2008 .02

SoC 테스트를 위한 테스트 데이터 압축

김윤홍

한국산학기술학회 논문지

2004 .12

저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 및 테스트 제어

이현빈 ,  김진규 ,  정태진 외 1명

전자공학회논문지-SD

2007 .11

이중 포트 메모리를 위한 효율적인 프로그램 가능한 메모리 BIST

박영규 ,  한태우 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2012 .08

시스템 온 칩 테스트를 위한 효과적인 테스트 접근 구조

송동섭 ,  배상민 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2002 .05

패킷 필터링 기능 테스트를 위한 테스트 도구 개발

김현수 ,  박영대 ,  국승학

정보과학회논문지 : 컴퓨팅의 실제 및 레터

2007 .04

이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트와 진단 알고리듬

김지혜 ,  김홍식 ,  김상욱 외 4명

전자공학회논문지-SD

2004 .05

DDR2 SDRAM을 이용한 비메모리 검사장비에서 정시성을 보장하기 위한 메모리 컨트롤러 개발

전민호 ,  신현준 ,  강철규 외 1명

한국항행학회논문지

2011 .01