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대한기계학회 대한기계학회 춘추학술대회 대한기계학회 창립 60주년 기념 추계학술대회 강연 및 논문 초록집
발행연도
2005.11
수록면
274 - 279 (6page)

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Thermal conductivity of silicon dioxide thin film covered by additional protective layer is measured via differential 3ω method which is capable of measuring thermal conductivity of multilayer thin films. This method requires the deposited metal line as a heater on the film of interest. However, the upper protective layer should be inserted inevitably between the metal heater and the thin film in certain circumstances such as when the thin film is a well-oxidized material or an electrically conductive material on account of protecting the thin film from oxidation or insulate the thin film from current leakage. Since the verification of differential 3ω method for these cases had not been conducted, we have shown that the differential 3ω method is verified to be reliable when the thermal conductivity of thin film with upper protective layer is measured as long as the proposed preconditions of the upper layer are satisfied. Experimental results show that the experimental error increases with the aspect ratio between upper layer thickness and width of the heater due to the heat spreading effect.

목차

Abstract
1. 서론
2. 실험 이론
3. 실험 구성
4. 실험 결과 및 토의
5. 결론
참고문헌

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