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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2008.4
- 수록면
- 105 - 116 (12page)
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오늘날의 시스템-온-칩(SoC)은 짧은 제품 생산 주기를 맞추기 위하여 재사용 가능한 IP 코아들을 이용하여 설계한다. 그러나 고집적 칩을 생산하는데 있어 증가한 칩의 테스트 비용은 큰 문제가 된다. 본 논문에서는 Advanced High-performance Bus(AHB)와 Peripheral Component Interconnect(PCI) 버스를 위한 온/오프-칩 버스 브리지를 이용한 효율적인 테스트 접근메커니즘을 제시한다. 본 기술은 독립적인 테스트 입력 경로와 출력 경로를 제공하고 버스 방향 전환을 위한 턴어라운드 지연시간을 없앰으로써 테스트 시간을 매우 줄였다. 실험 결과는 면적 오버헤드와 기능적 구조적 테스트 모두 에서의 시간이 줄어들었음을 보여준다. 제안하는 기술은 다른 종류의 온/오프-칩 버스 브리지에도 적용 가능하다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. AMBA 기반 SoC의 테스트 인터페이스
Ⅲ. 제안하는 AMBA 기반 SoC를 위한 테스트 접근 메커니즘
Ⅳ. 실험
Ⅴ. 결론
참고문헌
저자소개
참고문헌 (15)
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1. [학술대회논문] - Y. Zorian / 1998 / Testing embedded-core based system chips / Proc.IEEE Int.Test Conf. : 130 ~ 143
2. [단행본] - ARM / 1999 / AMBA specification (rev. 2.0) / ARM
3. [학술지(정기간행물)] - C.Feige / 1999 / Integration of the scan-test method into an architecture specific core-test approach / Springer J. ElectroicTesting: Theory and Applicat 14 : 125 ~ 131
4. [학술대회논문] - C. Lin / 2004 / Bus-oriented DFT design for embedded cores / Proc. IEEE Asia-Pacific Conf. : 561 ~ 563
5. [인터넷자원] - ARM / / AHB example AMBA system technical reference manual,ARM DDI 0170A
2. [단행본] - ARM / 1999 / AMBA specification (rev. 2.0) / ARM
3. [학술지(정기간행물)] - C.Feige / 1999 / Integration of the scan-test method into an architecture specific core-test approach / Springer J. ElectroicTesting: Theory and Applicat 14 : 125 ~ 131
4. [학술대회논문] - C. Lin / 2004 / Bus-oriented DFT design for embedded cores / Proc. IEEE Asia-Pacific Conf. : 561 ~ 563
5. [인터넷자원] - ARM / / AHB example AMBA system technical reference manual,ARM DDI 0170A
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