효율적인 LFSR 리시딩 기반의 테스트 압축 기법

김홍식; 김현진; 안진호; 강성호

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자료유형: 학술저널

저자정보: 김홍식 김현진 안진호 강성호

저널정보: 대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 電子工學會論文誌 SD編第46卷第3號

발행연도: 2009.3

수록면: 26 - 31 (6page)

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선형 피드백 쉬프트 레지스터(linear feedback shift register:LFSR) 기반의 효율적인 테스트 압축기법을 제안하였다. 일반적으로 기존의 LFSR 리시딩 기반의 테스트 압축 기법의성능은 주어진 테스트 큐브 집합내의 최대 할당 비트 수, s<SUB>max</SUB>에 따라서 변하는 특성을 가지고 있다. 따라서 본 논문에서는 LFSR과 스캔 체인사이에 서로 다른 클럭 주파수를 사용하여 적절하게 스캔 셀을 그룹화 함으로써 s<SUB>max</SUB>를 가상적으로 감소시킬 수 있었다. 만약 스캔 체인을 위한 클락 주파수보다 n배 느린 클락을 LFSR을 위하여 사용한다면, 스캔 체인내의 연속적인 n 개의 스캔셀들은 항상 동일한 테스트 입력값을 갖게 된다. 따라서 이와 같은 연속적인 셀들에 무상관 비트(don't care bit)를 적절하게 배치하게 되면 압축해야 하는 할당 비트의 수를 줄일 수 있게 된다. 제안하는 방법론의 선능은 스캔셀의 그룹화 알고리듬에 의존적이기 때문에, 그래프 기반의 새로운 스캔 셀 그룹화 알고리듬을 제안하였다. ISCAS 89 벤치마크 회로에 대한 실험을 통하여 제안하는 기법은 기존의 테스트 압축 기법들에 비해서 적은 메모리 용량 및 매우 작은 면적 오버헤드를 보장할 수 있음을 증명하였다.

#스캔 테스트 #테스트 압축 #시스템 온 칩 #선형 피드백 레지스터

참고문헌 (14)

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1. [단행본] - P. H. Bardell / 1987 / Built-in Test for VLSI:Pseudo-Random Techniques / John Wiely and Sons

2. [학술지(정기간행물)] - V. D. Agrawal / 1993 / A Tutorial on Buit-In Self-Test,Part 1:Principles / IEEE Design and Test of Computers 10 (1) : 73 ~ 82

3. [학술지(정기간행물)] - V. D. Agrawal / 1993 / A Tutorial on Buit-In Self-Test,Part 2:Applications / IEEE Design and Test of Computers 10 (2) : 69 ~ 77

4. [학술대회논문] - V. S. Iyenhar / 1989 / Synthesis and pseudo-random pattern testable designs / Proc. of International Test Conference : 501 ~ 508

5. [학술대회논문] - N. A. Touba / 1996 / Test point insertion based on path tracing / Proc. of VLSI Test Symposium : 2 ~ 8

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