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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2008.9
- 수록면
- 5 - 12 (8page)
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디지털 논리회로의 테스트 데이터와 전력소비를 단축시킬 수 있는 효율적인 테스트 방법을 제안한다. 제안 하는 테스트 방법은 테스트장비내의 테스트 데이터 저장 공간을 줄이는 하이브리드 run-length 인코딩 방법에 기초하고, 수정된 Bus-invert 코딩 방법과 스캔 셀 설계를 제안하여, 스캔 동작시의 개선된 전력 단축효과를 가져온다. ISCAS’89 벤치마크 회로의 실험결과 고장 검출율의 저하 없이 평균 전력은 96.7%, 피크전력은 84%의 단축을 보이며 테스트 데이터는 기존 방법보다 78.2%의 압축을 갖는다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. Introduction
Ⅱ. Proposed Low Power Scan Testing Scheme
Ⅲ. Applying The Hybrid Code
Ⅳ. Experimental Results
Ⅴ. Conclusion
References
저자소개
참고문헌 (13)
참고문헌 신청
1. [학술대회논문] - L. Whetsel / 2000 / Adapting scan architecture for low power operation / Proceedings of the International Test Conference : 863 ~ 872
2. [학술지(정기간행물)] - P. Rosinger / 2001 / Simultaneous reduction in volume of test data and power dissipation for systems-on-a-chip / IEE Electronic letters 37 : 1434 ~ 1436
3. [학술대회논문] - Xiaodong Chen / 2003 / Energy-efficient logic BIST based on state correlation analysis / Proceedings of VLSI Test Symposium : 267 ~ 272
4. [학술대회논문] - R. Sankaralingam / 2000 / Static compaction techniques to control scan vector power dissipation / Proceedings of VLSI Test Symposium : 35 ~ 40
5. [학술대회논문] - A. Chandra / 2001 / Combining low-power scan testing and test data compression for system-on-a-chip / Proceedings of IEEE/ACM Design Automation Conference : 166 ~ 169
2. [학술지(정기간행물)] - P. Rosinger / 2001 / Simultaneous reduction in volume of test data and power dissipation for systems-on-a-chip / IEE Electronic letters 37 : 1434 ~ 1436
3. [학술대회논문] - Xiaodong Chen / 2003 / Energy-efficient logic BIST based on state correlation analysis / Proceedings of VLSI Test Symposium : 267 ~ 272
4. [학술대회논문] - R. Sankaralingam / 2000 / Static compaction techniques to control scan vector power dissipation / Proceedings of VLSI Test Symposium : 35 ~ 40
5. [학술대회논문] - A. Chandra / 2001 / Combining low-power scan testing and test data compression for system-on-a-chip / Proceedings of IEEE/ACM Design Automation Conference : 166 ~ 169
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