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이용수
Abstract
1. 서론
2. Electromigration에 의한 고장 메커니즘
3. Electromigration의 가속수명시험
4. 결론
참고문헌
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1996 .01
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전기학회논문지 C
1999 .06
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2012 .01
Electromigration에 의한 Sn-0.7Cu/Cu 솔더의 IMC 성장 거동
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2013 .05
ELECTROMIGRATION STUDY OF Al THIN FILMS DEPOSITED ON LOW DIELECTRIC POLYIMIDE AND $SiO_2$ ILD
한국재료학회 학술발표대회
1998 .01
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