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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 1987.7
- 수록면
- 1,551 - 1,555 (5page)
이용수
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1987
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목차
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. CMOS 회로의 고장 모델과 그의 검출
Ⅲ. Time- skews 를 고려한 CMOS 회로의 Stuck-open 고장 검출
Ⅳ. 결합 시이퀀스 생성 알고리즘 및 적용 예
Ⅴ. 결론
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