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논리 게이트 모델링을 이용한 다이나믹 CMOS 회로의 테스트 생성 알고리듬
대한전자공학회 학술대회
1991 .06
논리 게이트 모델링을 이용한 다이나믹 Cmos 회로의 테스트 생성 알고리듬 ( A Test Generation Algorithm For Dynamic Cmos Logic Circuits Using Logic Gate Modeling )
대한전자공학회 학술대회
1991 .07
CMOS 회로의 테스트 생성 알고리즘 ( A Test Generation Algorithm for CMOS Circuits )
전자공학회지
1984 .11
CMOS 회로에 대한 테스트 생성 방법 ( A Test Generation Method for CMOS Circuits )
대한전자공학회 학술대회
1988 .11
경로대수를 이용한 CMOS 회로의 혼합레벨 테스트 생성 ( Mixed-level Test Generation for CMOS Circuits using Path Algebra )
대한전자공학회 학술대회
1993 .11
경로대수를 이용한 CMOS 회로의 혼합레벨 테스트 생성
대한전자공학회 학술대회
1993 .11
연결 그래프를 이용한 CMOS 논리회로의 테스트 생성 알고리즘 ( Test Generation Algorithm for CMOS Logic Circuits Using Connection Graph )
대한전자공학회 학술대회
1984 .01
CMOS회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘
대한전자공학회 학술대회
1986 .12
CMOS 회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘 ( A New Test Generation Algorithm for Detection of Faults in CMOS Circuits )
대한전자공학회 학술대회
1986 .01
CMOS 테스트를 위한 Built-In Self-Test 회로 설계 ( A Built-In Self-Test Method for CMOS Circuits )
전자공학회논문지-B
1992 .09
Time-skews를 고려한 CMOS회로의 테스트 생성 알고리즘 ( Test Generation Algorithm for CMOS Circuits Considering Time-skews )
대한전자공학회 학술대회
1987 .07
Time-skews를 고려한 CMOS 회로의 테스트 생성 알고리즘
대한전기학회 학술대회 논문집
1987 .07
테스트가 용이한 CMOS-1 Level Array Logic 의 설계 방식과 테스트 생성 ( easily Testable Design and Test Generation for the CMOS-1 Level Array Logic )
대한전자공학회 학술대회
1989 .01
Domino CMOS 논리회로의 테스트 생성에 관한 연구 ( A Study on Test Generation for Domino CMOS Logic Circuits )
전자공학회논문지
1990 .07
다이나믹 Cmos Pla의 Built-In 테스트 방식 ( A Built-In Testing Method for Dynamic Cmos Pla’s )
대한전자공학회 학술대회
1991 .07
다이나믹 CMOS PLA의 Built-In 테스트 방식
대한전자공학회 학술대회
1991 .06
CMOS 최적 회로 합성기 연구 ( An Optimized Sizing Program for CMOS Circuits )
특정연구 결과 발표회 논문집
1989 .01
CMOS 최적 회로 합성기 연구 ( An Optimized Sizing Program for CMOS Circuits )
한국통신학회 학술대회논문집
1989 .01
신경 회로망을 이용한 CMOS 회로의 stuck-open 고장 테스트 생성
대한전자공학회 학술대회
1994 .11
저전력 CMOS 기준전류 발생회로
대한전자공학회 학술대회
2001 .06
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