CMOS회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .12

CMOS 회로의 테스트 생성 알고리즘 ( A Test Generation Algorithm for CMOS Circuits )

조상복 ,  임인칠

전자공학회지

1984 .11

CMOS 회로에 대한 테스트 생성 방법 ( A Test Generation Method for CMOS Circuits )

정준모 ,  장원학 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1988 .11

Domino CMOS 회로의 고장검출을 위한 테스트 생성 ( Test Generation for Fault Detection in Domino CMOS Circuits )

정준모 ,  임인칠

전자공학회논문지-B

1991 .01

전류 테스팅 기법을 이용한 CMOS회로의 고장 검출 및 위치 결정 ( Fault Detection and Location of CMOS circuits using Current Testing Techniques )

이재웅 ,  안철회 ,  이광훈 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

전류 테스팅 기법을 이용한 CMOS 회로의 고장 검출 및 위치 결정

이재웅 ,  안철희 ,  이광훈 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1995 .06

신경 회로망을 이용한 CMOS 회로의 stuck-open 고장 테스트 생성

백준 ,  이종한 ,  이재민

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

연결 그래프를 이용한 CMOS 논리회로의 테스트 생성 알고리즘 ( Test Generation Algorithm for CMOS Logic Circuits Using Connection Graph )

조상복 ,  신용철 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

CMOS 테스트를 위한 Built-In Self-Test 회로 설계 ( A Built-In Self-Test Method for CMOS Circuits )

김윤홍 ,  임인칠

전자공학회논문지-B

1992 .09

CMOS 논리회로의 Multiple Stick-Open 고장 검출 ( The Multiple Stuck-Open Fault Detection in CMOS Logic Circuits )

김영호 ,  민병현 ,  노승용 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1989 .11

CMOS회로의 Stuck-Open 고장을 위한 테스트 생성 ( Test Generation for Stuck-Open Faults in CMOS Circuits )

이철원 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

Mixed-Level CMOS 회로의 고속 고장 시뮬레이션 ( Fast Fault Simulation for Mixed-Level CMOS Circuits )

박은세 ,  이명기 ,  박영호 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

경로대수를 이용한 CMOS 회로의 혼합레벨 테스트 생성

권중석 ,  이인학 ,  손윤식 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

경로대수를 이용한 CMOS 회로의 혼합레벨 테스트 생성 ( Mixed-level Test Generation for CMOS Circuits using Path Algebra )

권중석 ,  이인학 ,  손윤식 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

Time-skews를 고려한 CMOS 회로의 테스트 생성 알고리즘

이철원 ,  한석붕 ,  김윤홍 외 3명

대한전기학회 학술대회 논문집

1987 .07

Time-skews를 고려한 CMOS회로의 테스트 생성 알고리즘 ( Test Generation Algorithm for CMOS Circuits Considering Time-skews )

이철원 ,  한석붕 ,  김윤홍 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1987 .07

A Test Generation Algorithm for Fault Detection in Domino CMOS Circuits

Jun Mo Jung ,  In Chil Lim

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1991 .01

CMOS 회로의 Stuck-open 고장검출을 위한 로보스트 테스트 생성 ( Robust Test Generation for Stuck-Open Faults in CMOS Circuits )

정준모 ,  임인칠

전자공학회논문지

1990 .11

경로대수를 이용한 다이나믹 CMOS 회로의 테스트 생성 알고리즘 ( A Test Generation Algorithm for Dynamic CMOS Logic Circuits Using Path Algebras )

최원상 ,  박경훈 ,  박상욱 외 5명

대한전자공학회 학술대회

1990 .07

단일 테스트 모드를 이용한 CMOS 회로내의 Stuck-Open 고장 검출 ( Fault Detection of CMOS Stuck-Open Fault Using Single Test Mode )

조완교 ,  김영호 ,  노승룡 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1992 .01