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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2010.11
- 수록면
- 2,089 - 2,092 (4page)
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There are many cases that interrupt the production process because of malfunctions caused by electronic circuit boards which control equipment, but it is difficult to distinctly identify the causes in many cases. Especially, CMOS devices with the control logic circuit return automatically to normal state after their own faults. Therefore it is not easy to analyze the problems with electronic circuit boards. Recently, nuclear power plant experienced a failure due to the malfunction of electronic circuit boards and it was identified that the reason of the malfunction was because of latch-up phenomenon caused by external surge in electronic devices. This paper presents the causes and the phenomenon of latch-up by experiment and also a way using counter EMF diodes, noise filters and surge protective devices to prevent latch-up phenomenon from electronic circuit boards, finally confirms the effectiveness of the result by experiment.
목차
Abstract
1. 서론
2. 본론
3. 결론
참고문헌
저자소개
참고문헌 (5)
참고문헌 신청
1. [학술지(정기간행물)] - 고요환 / 1985 / CMOS Latch-up 현상의 실험적 해석 및 그 방지법 / 전자공학회지 22 (5) : 470 ~ 470
2. [학술지(정기간행물)] - 최병호 / 2008 / LCD 구동 IC를 위한 Power-Up 순차 스위치를 가진 Latch-Up 방지 기술 / 전자공학회논문지 - SD 45 (6) : 111 ~ 118
3. [학술지(정기간행물)] - 조대영 / 1993 / 전원장치의 노이즈 대책 / 전자공학회지 20 (9) : 981 ~ 981
4. [학술지(정기간행물)] - 최승덕 / 2005 / 스위칭에 의한 전원 전자파적 노이즈 대책과 회로 설계 개선에 관한 연구 / 한국정보기술학회논문지 3 (6)
5. [보고서] - IEC / 2008 / Surge Protective Devices connected to Low-voltage Power Distribution Systems
2. [학술지(정기간행물)] - 최병호 / 2008 / LCD 구동 IC를 위한 Power-Up 순차 스위치를 가진 Latch-Up 방지 기술 / 전자공학회논문지 - SD 45 (6) : 111 ~ 118
3. [학술지(정기간행물)] - 조대영 / 1993 / 전원장치의 노이즈 대책 / 전자공학회지 20 (9) : 981 ~ 981
4. [학술지(정기간행물)] - 최승덕 / 2005 / 스위칭에 의한 전원 전자파적 노이즈 대책과 회로 설계 개선에 관한 연구 / 한국정보기술학회논문지 3 (6)
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