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논문 기본 정보
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- 학술대회자료
- 저자정보
- 저널정보
- 대한전자공학회 ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications ITC-CSCC : 2009
- 발행연도
- 2009.7
- 수록면
- 428 - 431 (4page)
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In this paper, we propose a DFT method for resistor string DACs that enables us to test them easily by supply current test method. The targeted defects are shorts in the DACs. It is shown by some experiments that all of the targeted defects in a DAC designed with the DFT method can be detected with a smaller number of test vectors.
목차
Abstract
1. Introduction
2. DFT of DACs for Current Testing
3. Evaluation of Testability
4. Conclusion
Acknowledgment
References
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