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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 저널정보
- 대한전자공학회 ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications ITC-CSCC : 2008
- 발행연도
- 2008.7
- 수록면
- 1,533 - 1,536 (4page)
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In this paper, a DFT method of resistor string digital-to-analog converters (DACs) is proposed so as to be tested fully by supply current testing. Targeted defects are opens in the DACs. Testability of opens in testable designed DACs is examined experimentally. The results show that all of the opens in an N-bits testable designed DAC will be detected with test vectors of about 2(N-1) by supply current testing.
목차
Abstract
1. Introduction
2. Supply Current Testing of Resistor String DACs
3. DFT of DACs for Current Testing
4. Evaluation of DFT
5. Conclusion
Acknowledgment
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