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이용수
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. Halo MOSFET 소자에서 regional 근사법을 이용한 l/f 잡음의 해석
Ⅲ. 실험결과
Ⅳ. 결론
참고문헌
저자소개
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