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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
曺尙煜 (한양대학교) 梁世陽 (부산대학교) 朴成柱 (한양대학교)
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 電子工學會論文誌 第37卷 SD編 第11號
발행연도
2000.11
수록면
67 - 73 (7page)

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유한상태기의 상태할당은 이로부터 구현되는 순차회로의 속도 면적, 테스트가능도에 큰 영향을 미친다. 본 논문에서는 상태변수 그룹들 사이에 상호 의존성(dependency)을 최소화하여 스캔선택이 필요한 플립플롭 수를 최소화하기 위한 m 블록 분할을 이용한 새로운 상태할당 기술을 소개한다. 제안되는 방법을 통하여 우선 상태할당을 수행하고 논리 합성을 거친 후에 부분 스캔 설계가 이루어진다. 벤치마크 회로에 대한 실험 결과 면적과 속도 면에서 최적을 유지한 채로 테스트가능도가 현저히 개선되었음을 확인하였다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 순차회로에 대한 상태할당 방법
Ⅲ. 부분스캔을 고려한 최적화된 상태할당 기술 소개
Ⅳ. 상태변수들의 의존성을 줄이는 방법
Ⅴ. 실험결과
Ⅵ. 결론 및 향후 연구 계획
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