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Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 1997년도 가을 학술발표논문집 제24권 제2호(Ⅱ)
발행연도
1997.10
수록면
729 - 732 (4page)

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이 논문의 연구 히스토리 (4)

1999

구조분석과 테스트 가능도의 통합에 의한 부분스캔 설계
박종욱 ,  신상훈 ,  박성주 정보과학회논문지(A) 1999.09 학술저널

1997

구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계
박종욱 ,  박경태 ,  박성주 대한전자공학회 학술대회 1997.11 학술대회자료
구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계 ( A Unification of Structural Analysis And Testabilities For a Partial Scan Design )
박종욱 ,  박경택 ,  박성주 대한전자공학회 학술대회 1997.11 학술대회자료
구조분석과 테스트 가능도에 의한 부분스캔 설계
박종욱 ,  박경택 ,  박성주 한국정보과학회 학술발표논문집 1997.10 학술대회자료

초록· 키워드

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순차회로에서 테스트패턴 생성을 용이하게 하기 위하여 완전스캔 및 부분스캔 기술이 널리 이용되고 있다. 스캔설계로 인한 추가영역 및 속도지연을 최소화하고 최대의 고장 점검도를 목표로 하는 부분스캔 기술은 그래프 모델링[1], 테스트 가능도[2], 상위 수준에서의 구조분석[3,4] 등으로 구분할 수 있다. 본 연구에서는 구조분석에 의한 부분시캔과 테스트 가능도를 이용한 부분스캔 기술을 소개하고 각각의 기술에 의한 실험결과를 비교ㆍ분석한다. 어떤 순차회로에서는 구조분석에 의한 방법의 점검도가 높고 또 다른 회로에서는 테스트 가능도에 의한 스캔설계가 높은 점검도를 나타냄을 관측하였다. 이러한 두 가지 기술의 장단점을 분석하여 통합함으로써 최상의 고장점검도를 이룰 수 있는 새로운 방법을 제안한다.

목차

요약

1. 개요

2. 구조분석에 의한 부분스캔

3. 테스트 가능도에 의한 부분스캔 설계

4. 실험결과 및 구조분석과 테스트 가능도를 통합한 부분스캔의 제안

5. 결론 및 향후 연구 계획

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