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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
김경미 (건국대학교)
저널정보
대한산업공학회 산업공학 (IE interfaces) 산업공학 (IE interfaces) 제20권 제1호
발행연도
2007.3
수록면
87 - 93 (7page)

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Burn-in is an engineering method for screening out products containing reliability defects which would cause early failures in field operation. Previously, various burn-in models have been proposed mainly focused on the trade-off of shop repair cost and warranty cost ignoring manufacturing yield. From the view point of a manufacturer, however, burn-in decreases warranty cost at the expense of yield reduction. In this paper, we provide a general model quantifying a trade-off between product yield and reliability, in which any defect distribution from previous yield models can be used. A profit function is expressed in burn-in environments for determining an optimal burn-in time. Finally, the method is illustrated with gate oxide failures which is an important reliability concerns for VLSI CMOS circuits.

목차

1. 서론
2. 문헌고찰
3. 수율과 신뢰도의 상충효과
4. 게이트 산화막에의 적용
5. 결론
참고문헌

참고문헌 (15)

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