수율과 신뢰도의 상충효과를 고려한 번인

김경미

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자료유형: 학술저널

저자정보: 김경미 (건국대학교)

저널정보: 대한산업공학회 산업공학 (IE interfaces) 산업공학 (IE interfaces) 제20권 제1호

발행연도: 2007.3

수록면: 87 - 93 (7page)

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Burn-in is an engineering method for screening out products containing reliability defects which would cause early failures in field operation. Previously, various burn-in models have been proposed mainly focused on the trade-off of shop repair cost and warranty cost ignoring manufacturing yield. From the view point of a manufacturer, however, burn-in decreases warranty cost at the expense of yield reduction. In this paper, we provide a general model quantifying a trade-off between product yield and reliability, in which any defect distribution from previous yield models can be used. A profit function is expressed in burn-in environments for determining an optimal burn-in time. Finally, the method is illustrated with gate oxide failures which is an important reliability concerns for VLSI CMOS circuits.

#gate oxide #extrinsic reliability #yield loss #reliability gain

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1. [학술지(정기간행물)] - Block / 1997 / Burn-in Statistical Science 12 (1) : 1 ~ 13

2. [학술지(정기간행물)] - Cunningham / 1990 / The Use and Evaluation of Yield Models in Integrated Circuit Manufacturing IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing : 60 ~ 71

3. [학술지(정기간행물)] - A / 1992 / Introduction to Semiconductor Device Yield Modeling

4. [학술지(정기간행물)] - Huston / 1992 / Reliability Defect Detection and Screening during Processing : 268 ~ 275

5. [학술지(정기간행물)] - Jensen / 1982 / An Engineering Approach to the Design and Analysis of Burn-in Procedures

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김경미

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