100 % 결함 검출 가능한 회로의 합성 ( Synthesis of 100 % Testable Circuits )

이귀상

대한전자공학회 학술대회

1992 .01

테스트 용이한 논리회로 합성 시스템 개발 ( Development of a synthesis system for testable circuits )

이영호

대한전자공학회 토론회

1996 .01

테스트 용이한 논리회로 합성 시스템 개발

이영호

대한전자공학회 학술대회

1996 .07

4. D-Algorithm에 의한 다치논리 회로의 결함해석

김종렬 ,  김종상

대한전자공학회 학술대회

1981 .08

D-Algorithm에 의한 다치논리 회로의 결함해석

김종렬 ,  김종상

대한전자공학회 학술대회

1981 .01

BiCMOS 회로에서의 Stuck-open 고장 검출을 위한 테스터블 설계 ( Testable Design for Detection of Stuck-open Faults in BiCMOS Circuits )

차용철 ,  이재웅 ,  이광훈 외 8명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

BiCMOS 회로에서의 Stuck-open 고장 검출을 위한 테스터블 설계

차용철 ,  이재웅 ,  이광훈 외 8명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

CMOS회로의 Stuck-Open 고장을 위한 테스트 생성 ( Test Generation for Stuck-Open Faults in CMOS Circuits )

이철원 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

결함 검출 기법들의 성능 평가를 위한 테스트베드의 설계

윤영원 ,  이효순 ,  신현식

한국정보과학회 학술발표논문집

2000 .10

단일 테스트 모드를 이용한 CMOS 회로내의 Stuck-Open 고장 검출 ( Fault Detection of CMOS Stuck-Open Fault Using Single Test Mode )

조완교 ,  김영호 ,  노승룡 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1992 .01

위성의 결함관리시스템 개발 기술동향

김정아 ,  최재동

항공우주산업기술동향

2014 .12

시스템 관리 기능을 위한 결함분석기 개발

윤재식 ,  고정국 ,  김길용

한국정보과학회 학술발표논문집

1998 .10

조합 논리 회로에서의 결함 시뮬레이션에 관한 연구

서성환 ,  백덕화 ,  김정환 외 1명

한국정보과학회 학술발표논문집

1991 .04

Self - Test가 용이한 CMOS 논리회로 설계

김영호 ,  민병헌 ,  조완교 외 2명

한국정보과학회 학술발표논문집

1990 .10

Stuck-Open 고장 검출이 용이한 단일 테스트 패턴 생성 ( Generate Single Test Pattern for Stuck-Open Fault in CMOS )

김영호 ,  조완교 ,  조석현 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1991 .11

신경회로망을 이용한 CMOS 회로의 Stuck-open 고장 테스트 생성 ( Test Generation for the Stuck-open Faults of CMOS Circuits Using Neural Networks )

백준 ,  이종한 ,  이재민

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

조합논리회로의 결함검출시험에 관한 연구 ( A Study on Fault Detection Tests for Combinational Logic Networks )

최흥문

전자공학회지

1978 .01

조합 논리 회로의 경로 지연 고장 검출을 위한 가중화 임의 패턴 테스트 기법 ( A Weighted Random Pattern Testing Technique for Path Delay Fault Detection in Combinational Logic Circuits )

허용민 ,  임인칠

전자공학회논문지-A

1995 .12

결함 검출이 용이한 1기가 비트 메모리

권오형 ,  김상우 ,  박재홍 외 3명

한국정보과학회 학술발표논문집

1997 .10

BiCMOS 회로의 Stuck - Open 고장과 Stuck - On 고장 검출을 위한 테스트 패턴 생성

신재흥 ,  임인칠

전자공학회논문지-C

1997 .01