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논리회로에 대한 테스트 생성 과정으로서 결함 시뮬레이션은 매우 중요하다. 본 논문에서는 주어진 회로를 forward tracing 하면서 각 line에 정상적인 값을 setting 하는 전처리과정과 backward tracing 과정에서 Primary Output을 control 할 수 없는 path의 line 들을 cutting 하므로서 최소의 기억장소가 사용되고 계산 회수를 줄이는 알고리즘을 제안하고 기존의 Concurrent Fault Simulation 과 성능 평가를 하였다.

목차

요약

Ⅰ. 서론

Ⅱ. 테스트 생성 절차

Ⅲ. 결함 시뮬레이션

Ⅳ. 결론

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