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논문 기본 정보
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- 대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 CAD 및 VLSI 설계 연구회 종합 학술 대회 1996 : ASIC Design Workshop, 신진 박사 논문 발표 대회 및 공개 토론회 논문집
- 발행연도
- 1996.7
- 수록면
- 177 - 194 (18page)
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목차
요약
1. 서론
2. 의사 전체 테스트
3. 효율적인 의사 전체 테스트를 위한 논리회로 합성
4. 실험 결과
5. 결론 및 향후 연구과제
참고문헌
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