Embedded RAM 테스트를 위한 BIST 회로 설계 ( Design of BIST Cicuit for Multiple RAM Modules Embedded in ASIC )

김지현 ,  성경호 ,  장종권

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

내장 메모리 테스트를 위한 BIST 회로 자동생성기 ( Automatic BIST Circuit Generator for Embedded Memories )

양선웅 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2001 .10

고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계

이정민 ,  심은성 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2005 .02

VHDL을 이용한 테스트 알고리즘의 BIST 회로 설계

배성환 ,  신상근 ,  김대익 외 2명

한국음향학회지

1999 .01

혼성 신호 회로에 대한 효과적인 BIST

방금환 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2002 .08

연상 메모리를 위한 BIST 회로 설계에 관한 연구 ( A Study on design BIST Circuit for Content Addressable Memory )

정장원 ,  이주석 ,  고학림 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

1996 .01

메모리 테스트를 위한 BIST 기술

김대익 ,  배성환 ,  이창기 외 2명

전자공학회지

1995 .12

입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소 ( Test Time Reduction of BIST by Primary Input Grouping Method )

장윤석 ,  김동욱

전자공학회논문지-SD

2000 .08

회로분할과 테스트 입력 벡터 제어를 이용한 저전력 Scan-based BIST 설계

신택균 ,  손윤식 ,  정정화

대한전자공학회 학술대회

2001 .06

혼합 모드 BIST 테스트 패턴 생성기

金弘植 ,  李抗圭 ,  姜成昊

전기학회논문지

1998 .07

효율적인 캐쉬 테스트 알고리듬 및 BIST 구조 ( An Effective Cache Test Algorithm and BIST Architecture )

김홍식 ,  윤도현 ,  강성호

전자공학회논문지-C

1999 .12

분할 및 병렬 처리 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소

崔炳九 ,  金東郁

전기학회논문지 D

2000 .06

A BIST RAM Architecture With Parallel Testing in a Microprogram ROM

Feipei Lai ,  Jung Meng Huang ,  Cheun Jing Ho 외 1명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1991 .01

메모리의 고장과 결함 검출 가능한 BIST 회로의 설계

배성환 ,  김관웅 ,  이옥재 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

초 고집적 메모리의 효율적인 테스트를 위한 BIST 회로와 BICS 의 설계 ( A Design of BIST Circuit and BISC for Efficient ULSI Memory Testing )

김대익 ,  전병실

전자공학회논문지-C

1997 .08

P1838 표준의 Memory BIST를 재활용 한 3차원으로 적층 된 플랫 메모리 자체 테스트 기법

강동호 ,  박재석 ,  김일웅 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

2015 .01

1.8GHz 고주파 전단부의 결함 검사를 위한 새로운 BIST 회로

류지열 ,  노석호

전자공학회논문지-TC

2005 .06

메모리의 고장과 결함 검출 가능한 BIST 회로의 설계 ( A Design of Fault and Defectable BIST Circuit for Memories )

배성환 ,  김관웅 ,  이옥재 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

플래시 메모리를 위한 유한 상태 머신 기반의 프로그래머블 자체 테스트

김지환 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2007 .06

RAM의 병렬 테스팅을 위한 알고리듬개발 및 테스트 회로 설계에 관한 연구 ( A Study on the Test Circuit Design and Development of Algorithm for Parallel RAM Testing )

조현묵 ,  백경갑 ,  백인천 외 1명

한국통신학회논문지

1992 .07