N2O 질화산화막을 갖는 MOS 캐패시터의 TDDB 특성 ( TDDB Properties of MOS Capacitors with N2O Oxynitride Layer )

이풍엽 ,  이상돈 ,  김봉열

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

N2O 질화산화막의 성장 방법 및 면적에 따른 TDDB 특성

정태식 ,  김재영 ,  이상돈 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1994 .01

얇은 산화막의 광 조사후 TDDB특성에 관한 연구 ( The reserch on the TDDB of thin film after the irradiation )

김재호 ,  성영권

대한전자공학회 학술대회

1989 .11

정전류 Stress 하에서의 얇은 산화막의 TDDB 특성 ( The TDDB Characteristics of Thin Si02 under Constant Stress Condition )

김천수 ,  이경수 ,  남기수 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1988 .11

스트레스전압 극성에 따른 얇은 산화막의 TDDB 특성 ( The TDDB Characteristics of Thin SiO2 with Stress Voltage Polarity )

김천수 ,  이경수 ,  남기수 외 1명

전자공학회논문지

1989 .05

N₂O 가스에서 열산화에 의해 형성된 oxynitride막의 특성

배성식 ,  이철인 ,  최현식 외 4명

대한전기학회 학술대회 논문집

1993 .07

플라즈마 실리콘 OXYNITRIDE막의 구조적 특성에 관한 고찰

成英權 ,  李鐵眞 ,  崔福吉

전기학회논문지

1992 .05

습식 산화한 LPCVD Silicon Nitride층의 물리적, 전기적 특성

이은구 ,  박진성

한국재료학회지

1994 .01

N / O ( Si3N4 / SiO2 ) 유전막의 Tddb 특성에 미치는 상부산화조건의 영향 ( Effects of Top OxIdation Condition on Tddb Characteristics of N / O ( Si3N4 / SiO2 ) Dielectric Films )

고재석 ,  구경완 ,  조동율 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .11

N/O(Si₃N₄/SiO₂) 유전막의 TDDB 특성에 미치는 상부산화조건의 영향

고재석 ,  구경완 ,  조동율 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1990 .11

The Impact of TDDB Failure on Nanoscale CMOS Digital Circuits

Yeon-Bo Kim ,  Kyung Ki Kim

한국산업정보학회논문지

2012 .09

HK/MGFET’s 의 Accumulation TDDB Modeling

남종익 ,  사공현철 ,  김혜진 외 5명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2016 .05

얇은 절연막의 TDDB 분석과 전기적 특성

박찬원 ,  김복헌

산업기술연구 : 강원대학교 산업기술연구소

1988 .01

N2O 산화막을 갖는 MOS 캐패시터의 전기적 및 신뢰성 특성 ( Electrical and Reliability properties of MOS Capacitors with N2O oxides )

이상돈 ,  노재성 ,  김봉렬

전자공학회논문지-A

1994 .06

플라즈마 CVD 방법에 의한 oxynitride막의 특성에 관한 고찰

서강원 ,  백광균 ,  권정열 외 3명

대한전기학회 학술대회 논문집

1993 .07

RTP로 $N_2$O 분위기에서 제조한 Oxynitride Gate 절연체의 물질적 전기적 특성

박진성 ,  이우성 ,  심태언 외 1명

한국재료학회지

1992 .01

Reliability Analysis Framework for Time Dependent Dielectric Breakdown

Ki ,  on Pa ,  k 외 6명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2020 .02

$N_{2}O$ 기체로 제조한 Oxynitride 절연체의 물질적 전기적 특성

박진성

한국재료학회 학술발표대회

1994 .01

온도 의존성을 반영한 개선된 TDDB 수명 예측 모델 개발

Ki ,  on Pa ,  k 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2019 .06