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이용수
요약
1. 서론
2. 고장모델
3. 고장 논리 출력값과 전류 경로
4. 고장 검출 및 위치 결정을 위한 구조
5. 적용예
6. 결론
참고문헌
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전류 테스팅 기법을 이용한 CMOS회로의 고장 검출 및 위치 결정 ( Fault Detection and Location of CMOS circuits using Current Testing Techniques )
대한전자공학회 학술대회
1995 .07
CMOS회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘
대한전자공학회 학술대회
1986 .12
CMOS 회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘 ( A New Test Generation Algorithm for Detection of Faults in CMOS Circuits )
대한전자공학회 학술대회
1986 .01
전류 테스팅 기법을 사용한 CMOS IC의 고장 분석
대한전자공학회 학술대회
1993 .07
저전력 CMOS 기준전류 발생회로
대한전자공학회 학술대회
2001 .06
CMOS VISI를 위한 전류 테스팅 기반 고장모델의 효율적인 중첩 알고리즘
한국통신학회논문지
2004 .10
CMOS 논리회로의 Multiple Stick-Open 고장 검출 ( The Multiple Stuck-Open Fault Detection in CMOS Logic Circuits )
대한전자공학회 학술대회
1989 .11
전류 태스팅 기법을 사용한 CMOS IC의 고장 분석 ( Fault Analysis of CMOS Ics using Current Testing Technique )
대한전자공학회 학술대회
1993 .07
CMOS 회로에 대한 테스트 생성 방법 ( A Test Generation Method for CMOS Circuits )
대한전자공학회 학술대회
1988 .11
CMOS 회로의 테스트 생성 알고리즘 ( A Test Generation Algorithm for CMOS Circuits )
전자공학회지
1984 .11
Mixed-Level CMOS 회로의 고속 고장 시뮬레이션 ( Fast Fault Simulation for Mixed-Level CMOS Circuits )
대한전자공학회 학술대회
1994 .11
저전력 전류모드 CMOS 기준전압 발생 회로 ( A Low-Power Current-Mode CMOS Voltage Reference Circuit )
대한전자공학회 학술대회
1998 .11
저전력 전류모드 CMOS 기준전압 발생 회로
대한전자공학회 학술대회
1998 .11
Domino CMOS 회로의 고장검출을 위한 테스트 생성 ( Test Generation for Fault Detection in Domino CMOS Circuits )
전자공학회논문지-B
1991 .01
CMOS 테스트를 위한 Built-In Self-Test 회로 설계 ( A Built-In Self-Test Method for CMOS Circuits )
전자공학회논문지-B
1992 .09
CMOS 아날로그 셀 라이브레리 설계에 관한 연구 - CMOS 온-칩 전류 레퍼런스 회로 ( A Study on a CMOS Analog Cell-Library Design ( - A CMOS On-Chip Current Reference Circuit ) )
전자공학회논문지-A
1996 .04
CMOS 최적 회로 합성기 연구 ( An Optimized Sizing Program for CMOS Circuits )
특정연구 결과 발표회 논문집
1989 .01
CMOS 최적 회로 합성기 연구 ( An Optimized Sizing Program for CMOS Circuits )
한국통신학회 학술대회논문집
1989 .01
CMOS를 이용한 전류제어 파형발생회로의 설계 ( Design of Current Controlled Waveform Generator using CMOS )
대한전자공학회 학술대회
1993 .01
후각 신호 검출을 위한 CMOS기반 센서 검출 회로
대한전자공학회 학술대회
2011 .06
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