전류 테스팅 기법을 이용한 CMOS회로의 고장 검출 및 위치 결정 ( Fault Detection and Location of CMOS circuits using Current Testing Techniques )

이재웅 ,  안철회 ,  이광훈 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

전류 테스팅 기법을 이용한 CMOS 회로의 고장 검출 및 위치 결정

이재웅 ,  안철희 ,  이광훈 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1995 .06

CMOS VLSI에서 트랜지스터 합선 고장을 위한 효율적인 등가 고장 중첩 알고리즘

배성환

전자공학회논문지-SD

2003 .12

CMOS 회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘 ( A New Test Generation Algorithm for Detection of Faults in CMOS Circuits )

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

CMOS회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .12

전류 테스팅을 위한 객체 기반의 무해고장 검출 기법

배성환 ,  김관웅 ,  전병실

한국통신학회논문지

2002 .01

전류 태스팅 기법을 사용한 CMOS IC의 고장 분석 ( Fault Analysis of CMOS Ics using Current Testing Technique )

한석붕 ,  김영일 ,  이건기 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

전류 테스팅 기법을 사용한 CMOS IC의 고장 분석

한석봉 ,  김영일 ,  이건기 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1993 .07

CMOS 회로의 전류 테스팅를 위한 내장형 전류감지기 설계 ( Design of a Built-in Current Sensor for Current Testing Method in CMOS VLSI )

김강철 ,  한석붕

전자공학회논문지-B

1995 .11

순차 회로를 위한 효율적인 혼합 고장 진단 알고리듬

김지혜 ,  이주환 ,  강성호 외 2명

전자공학회논문지-SD

2004 .05

순차 회로의 효율적인 지연 고장 검출을 위한 새로운 테스트 알고리듬 및 스캔 구조

許璟會 ,  康容碩 ,  姜成昊

전자공학회논문지-SD

2000 .11

CMOS 집적회로의 테스팅을 위한 새로운 내장형 전류감지 회로의 설계

홍승호 ,  김정범

대한전기학회 학술대회 논문집

2003 .11

CMOS 집적회로의 테스팅을 위한 새로운 내장형 전류감지 회로의 설계

홍승호 ,  김정범

대한전기학회 학술대회 논문집

2003 .11

전류 전압 모니터링에 의한 CMOS 전가산기의 결함탐지

최진호 ,  전문석 ,  이철희

한국정보과학회 학술발표논문집

1993 .10

저전력 CMOS 기준전류 발생회로

김유환 ,  권덕기 ,  이종렬 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2001 .06

An Efficient Diagnosis Algorithm for Multiple Stuck-at Faults

임요섭 ,  이주환 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2006 .09

지연 고장 테스팅에 대한 고장 검출율 메트릭 ( Fault Coverage Metric for Delay Fault Testing )

김명균 ,  강성호 ,  한창호 외 1명

전자공학회논문지-SD

2001 .04

Mixed-Level CMOS 회로의 고속 고장 시뮬레이션 ( Fast Fault Simulation for Mixed-Level CMOS Circuits )

박은세 ,  이명기 ,  박영호 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

고장 대상 후보를 줄이기 위한 패턴 비교 알고리즘

조형준 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2007 .11

고속 고장 진단을 위해 고장 후보 정렬과 테스트 패턴 정렬을 이용한 고장 탈락 방법

이주환 ,  임요섭 ,  김홍식 외 1명

전자공학회논문지-SD

2009 .03