메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Seoyoung Hong (Hankuk University of Foreign Studies) Seonghearn Lee (Hankuk University of Foreign Studies)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.15 No.5
발행연도
2015.10
수록면
485 - 489 (5page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
An accurate large-signal BSIM4 macro model including new empirical bias-dependent equations of the drain-source capacitance and channel resistance constructed from bias-dependent data extracted from S-parameters of RF MOSFETs is developed to reduce S<SUB>22</SUB>-parameter error of a conventional BSIM4 model. Its accuracy is validated by finding the much better agreement up to 40 ㎓ between the measured and modeled S<SUB>22</SUB>-parameter than the conventional one in the wide bias range.

목차

Abstract
Ⅰ. INTRODUCTION
Ⅱ. PARAMETER EXTRACTION
Ⅲ. MODELING
Ⅳ. CONCLUSIONS
REFERENCES

참고문헌 (10)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2016-569-002082754