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학술저널
저자정보
이영준 (The Attached Institute of Electronics and Telecommunications Research Institute(ETRI)) 박희선 (The Attached Institute of Electronics and Telecommunications Research Institute(ETRI)) 권영현 (The Attached Institute of Electronics and Telecommunications Research Institute(ETRI)) 이재기 (The Attached Institute of Electronics and Telecommunications Research Institute(ETRI)) 최지은 (The Attached Institute of Electronics and Telecommunications Research Institute(ETRI)) 조상우 (The Attached Institute of Electronics and Telecommunications Research Institute(ETRI))
저널정보
한국통신학회 한국통신학회논문지 한국통신학회논문지 제41권 제9호
발행연도
2016.9
수록면
1,108 - 1,119 (12page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2016

스마트폰 기본 동작 모드에 따른 저주파 대역 누설 전자파 신호 특성 분석
이영준 ,  박희선 ,  권영현 외 3명 한국통신학회논문지 2016.09 학술저널
동작 모드에 따른 스마트폰 누설 전자파 방사 패턴 분석
이영준 ,  박희선 ,  권영현 외 3명 한국통신학회 학술대회논문집 2016.01 학술대회자료

초록· 키워드

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본 논문에서는 스마트폰의 저주파 대역 누설 전자파가 미치는 악영향을 분석하기 위해 스마트폰 모델별로 기본동작에 따라 누설되는 30 MHz 이하의 누설 전자파 신호의 스펙트럼 특성 및 방사 패턴을 분석하였다. 사용자와의 직접적인 인터페이스를 담당하는 스마트폰의 입출력 센서 모듈(터치스크린, 카메라, 마이크 및 스피커 모듈)을 활성화시키는 4가지 기본 동작 모드에 의해 누설되는 전자파 신호를 상용 Near-Field 마그네틱 프로브를 통해 1cm의 격자 간격으로 정밀하게 측정하였다. 측정된 누설 전자파 신호를 분석한 결과, 스마트폰의 모델 및 동작모드별로 누설되는 저주파 대역 전자파는 특이한 피크(Peak) 또는 하모닉(Harmonic) 피크 성분을 보이며, 동작 모드에 따라 각각의 입출력 센서 모듈이 활성화될 경우 해당 센서 모듈 및 메인보드 상의 AP(Application Processor), 메모리 주위로 상대적으로 강한 저주파 대역의 전자파가 누설되는 것을 확인할 수 있었다.
#Electromagnetic interference(EMI) #Electromagnetic(EM) leakage analysis #Smartphone EM Leakage #Smartphone I/O sensor modules #Data acquisition system

목차

요약
ABSTRACT
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 스마트폰 내부 구조 분석
Ⅲ. 스마트폰 누설 전자파 측정 시험 환경
Ⅳ. 스마트폰의 동작 모드에 따른 누설 전자파 분석
Ⅴ. 결론
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